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A fast and accurate per-cell dynamic IR-drop estimation method for at-speed scan test pattern validation
http://hdl.handle.net/10061/11174
http://hdl.handle.net/10061/11174c76f8bb2-e00d-4490-a999-449c0eac9021
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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fulltext (3.3 MB)
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| Item type | 会議発表論文 / Conference Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2016-11-25 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | A fast and accurate per-cell dynamic IR-drop estimation method for at-speed scan test pattern validation | |||||
| 言語 | en | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | automatic test pattern generation | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | benchmark testing | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | infrared spectra | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | nanoelectronics | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | IR-drop-induced yield loss | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | at-speed scan test pattern validation | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | benchmark circuits | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | global cycle average power profile | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | nano-scale designs | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | per-cell dynamic IR-drop estimation method | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | representative patterns | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | supply voltage | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | total computation time | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Clocks | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Delay | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Estimation | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Power demand | |||||
| キーワード | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Switches | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_5794 | |||||
| 資源タイプ | conference paper | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||
| 著者 |
Yamato, Yuta
× Yamato, Yuta× Yoneda, Tomokazu× Hatayama, Kazumi× Inoue, Michiko |
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| 抄録 | ||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||
| 内容記述 | In return for increased operating frequency and reduced supply voltage in nano-scale designs, their vulnerability to IR-drop-induced yield loss grew increasingly apparent. Therefore, it is necessary to consider delay increase effect due to IR-drop during at-speed scan testing. However, it consumes significant amounts of time for precise IR-drop analysis. This paper addresses this issue with a novel per-cell dynamic IR-drop estimation method. Instead of performing time-consuming IR-drop analysis for each pattern one by one, the proposed method uses global cycle average power profile for each pattern and dynamic IR-drop profiles for a few representative patterns, thus total computation time is effectively reduced. Experimental results on benchmark circuits demonstrate that the proposed method achieves both high accuracy and high time-efficiency. | |||||
| 言語 | en | |||||
| 書誌情報 |
p. 1-8, 発行日 2012 |
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| 会議情報 | ||||||
| 会議名 | ITC : 2012 IEEE International Test Conference(en) | |||||
| 開催期間 | 5-8 Nov. 2012(en) | |||||
| 開催地 | Anaheim CA(en) | |||||
| 開催国 | USA | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | IEEE | |||||
| 言語 | en | |||||
| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 1089-3539 | |||||
| 出版者版DOI | ||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.1109/TEST.2012.6401549 | |||||
| 出版者版URI | ||||||
| 関連タイプ | isVersionOf | |||||
| 識別子タイプ | URI | |||||
| 関連識別子 | http://ieeexplore.ieee.org/document/6401549/ | |||||
| 権利 | ||||||
| 言語 | en | |||||
| 権利情報 | Copyright c 2012 IEEE Computer Society Washington, DC, USA | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | AM | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_ab4af688f83e57aa | |||||
