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アイテム
アモルファス酸化物半導体In-Ga-Zn-O薄膜トランジスタにおける電気的欠陥が信頼性に与える影響に関する研究
https://doi.org/10.34413/dr.01558
https://doi.org/10.34413/dr.0155889718279-d0c3-481f-9e8e-cd0ecd74463f
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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fulltext (6.5 MB)
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abstract (192.5 kB)
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| Item type | 学位論文（博士論文） / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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| 公開日 | 2018-04-18 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | アモルファス酸化物半導体In-Ga-Zn-O薄膜トランジスタにおける電気的欠陥が信頼性に与える影響に関する研究 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | アモルファス サンカブツ ハンドウタイ In-Ga-Zn-O ハクマク トランジスタ ニ オケル デンキテキ ケッカン ガ シンライセイ ニ アタエル エイキョウ ニ カンスル ケンキュウ | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 薄膜トランジスタ | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 電気的欠陥 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | ストレス信頼性 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | In-Ga-Zn-O | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | PITS | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| ID登録 | 10.34413/dr.01558 | |||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | Study on Electrical Defects in Amorphous In-Ga-Zn-O Thin Film Transistor Reliability | |||||
| 著者 |
越智, 元隆
× 越智, 元隆 |
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| 書誌情報 |
発行日 2018-03-23 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
| 出版タイプ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||
| 学位授与機関名 | ||||||
| 学位授与機関名 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2018-03-23 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第1558号 | |||||
| 電子化ID | ||||||
| 値 | R014317 | |||||
| 電子化ID | ||||||
| 値 | R014399 | |||||
