WEKO3
アイテム
偏光分析 CMOSイメージセンサとマイクロリアクタ用 in situ 不斉計測システムへの応用に関する研究
https://doi.org/10.34413/dr.01216
https://doi.org/10.34413/dr.012163667bfe3-8133-4715-89cb-815ac80e132d
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文(博士論文) / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2014-06-19 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | 偏光分析 CMOSイメージセンサとマイクロリアクタ用 in situ 不斉計測システムへの応用に関する研究 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | ヘンコウ ブンセキ CMOS イメージ センサ ト マイクロ リアクタヨウ in situ フセイ ケイソク システム エノ オウヨウ ニ カンスル ケンキュウ | |||||
言語 | ||||||
言語 | jpn | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | CMOS イメージセンサ | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | in situ 不斉計測 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | ワイヤーグリッド偏光子 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ | doctoral thesis | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.34413/dr.01216 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | Application of in situ chiral analysis system using polarization-analyzing CMOS image sensor for micro-reactor systems | |||||
著者 |
若間, 範充
× 若間, 範充 |
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書誌情報 |
発行日 2014-03-24 |
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出版者 | ||||||
出版者 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(工学) | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2014-03-24 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 甲第1216号 | |||||
電子化ID | ||||||
電子化ID |