WEKO3
アイテム
Highly Reliable Memory Architectures Using Combination of In-Field Self-Repair, ECC and Aging Test
https://doi.org/10.34413/dr.01372
https://doi.org/10.34413/dr.0137223318686-0d60-4f1b-aae2-b316e2dda68b
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
fulltext (5.1 MB)
|
|
|
|
abstract (164.8 kB)
|
|
| Item type | 学位論文（博士論文） / Thesis or Dissertation(1) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2016-09-28 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Highly Reliable Memory Architectures Using Combination of In-Field Self-Repair, ECC and Aging Test | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題 | memory repair | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題 | memory reliability | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題 | in-field test and repair | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題 | ECC | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題 | in-field repair strategy | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||
| ID登録 | ||||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | フィールドでの自己修復、誤り訂正、劣化検知を組み合わせた高信頼メモリアーキテクチャ | |||||
| その他のタイトル | ||||||
| その他のタイトル | フィールド デノ ジコ シュウフク アヤマリ テイセイ レッカ ケンチ オ クミアワセタ コウシンライ メモリ アーキテクチャ | |||||
| 著者 |
Mayuga, Gian Paolo Topico
× Mayuga, Gian Paolo Topico |
|||||
| 書誌情報 |
発行日 2016-09-26 |
|||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | Nara Institute of Science and Technology | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 学位名 | ||||||
| 学位名 | 博士(工学) | |||||
| 学位授与機関 | ||||||
| 学位授与機関名 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
| 学位授与年月日 | ||||||
| 学位授与年月日 | 2016-09-26 | |||||
| 学位授与番号 | ||||||
| 学位授与番号 | 甲第1372号 | |||||
| 電子化ID | ||||||
| 値 | R013177 | |||||
| 電子化ID | ||||||
| 値 | R013151 | |||||
