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Development of a new analysis method in two-dimensional reciprocal space map and evaluation of surface atomic arrangement in three-dimensionally nano-fabricated materials using diffraction
https://doi.org/10.34413/dr.01587
https://doi.org/10.34413/dr.0158700cc8384-b773-4aea-8f54-d31fd7491cda
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 学位論文(博士論文) / Thesis or Dissertation(1) | |||||
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公開日 | 2018-11-08 | |||||
タイトル | ||||||
タイトル | Development of a new analysis method in two-dimensional reciprocal space map and evaluation of surface atomic arrangement in three-dimensionally nano-fabricated materials using diffraction | |||||
言語 | ||||||
言語 | eng | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 回折法 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | X線回折 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 電子線回折 | |||||
キーワード | ||||||
主題Scheme | Other | |||||
主題 | 逆格子 | |||||
資源タイプ | ||||||
資源タイプ | doctoral thesis | |||||
ID登録 | ||||||
ID登録 | 10.34413/dr.01587 | |||||
ID登録タイプ | JaLC | |||||
アクセス権 | ||||||
アクセス権 | open access | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | 回折法を用いた二次元逆空間マッピングにおける新解析方法の開発、および三次元ナノ加工物質の表面原子配列評価 | |||||
その他のタイトル | ||||||
その他のタイトル | カイセツホウ オ モチイタ ニジゲン ギャク クウカン マッピング ニ オケル シンカイセキ ホウホウ ノ カイハツ 、 オヨビ サンジゲン ナノ カコウ ブッシツ ノ ヒョウメン ゲンシ ハイレツ ヒョウカ | |||||
著者 |
竹本, 昌平
× 竹本, 昌平 |
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書誌情報 |
発行日 2018-09-30 |
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出版者 | ||||||
出版者 | Nara Institute of Science and Technology | |||||
著者版フラグ | ||||||
出版タイプ | VoR | |||||
学位名 | ||||||
学位名 | 博士(工学) | |||||
学位授与機関 | ||||||
学位授与機関名 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
学位授与年月日 | ||||||
学位授与年月日 | 2018-09-30 | |||||
学位授与番号 | ||||||
学位授与番号 | 甲第1587号 | |||||
電子化ID | ||||||
電子化ID |