WEKO3
アイテム
へき開法によるシリコン表面上の超薄膜界面構造の断面走査トンネル顕微観察
http://hdl.handle.net/10061/5811
http://hdl.handle.net/10061/58115caed54c-249e-4cf7-bc47-744e149fdb19
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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fulltext (162.8 kB)
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| アイテムタイプ | 研究報告書 / Research Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2010-10-04 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | へき開法によるシリコン表面上の超薄膜界面構造の断面走査トンネル顕微観察 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | ヘキカイホウ ニヨル シリコン ヒョウメンジョウ ノ チョウハクマク カイメン コウゾウ ノ ダンメン ソウサ トンネル ケンビ カンサツ | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 走査トンネル顕微鏡 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 界面構造 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | へき開 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 薄膜 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | シリコン表面 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | research report | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| 著者 |
服部, 賢
× 服部, 賢 |
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| 書誌情報 |
発行日 2010 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
| 科研費番号 | ||||||
| 値 | 21540322 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 電子化ID | ||||||
| 値 | R007947 | |||||
