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大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書
http://hdl.handle.net/10061/4837
http://hdl.handle.net/10061/4837493222ea-1f5a-4094-be97-b1f56b80ace0
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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fulltext (234.4 kB)
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| アイテムタイプ | 研究報告書 / Research Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2008-11-21 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | 大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究 : 平成19年度実績報告書 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | ダイキボ・コウセイノウ VLSI ノ レジスタ テンソウ レベル ニ オケル テスト ヨウイカ セッケイ ニ カンスル ケンキュウ | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | jpn | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | VLSIテスト | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | テスト容易化設計 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 縮退故障 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 遅延故障 | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | レジスタ転送レベル | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | データパス | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | 不均一ビット幅 | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ | research report | |||||
| アクセス権 | ||||||
| アクセス権 | open access | |||||
| 著者 |
大竹, 哲史
× 大竹, 哲史 |
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| 書誌情報 |
発行日 2008 |
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| 出版者 | ||||||
| 出版者 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||
| 科研費番号 | ||||||
| 値 | 17700062 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 電子化ID | ||||||
| 値 | R006482 | |||||
