WEKO3
アイテム
Analysis of performance and reliability improvement in fully solution-processed oxide semiconductor for flexible device application
http://hdl.handle.net/10061/0002000017
http://hdl.handle.net/10061/0002000017be865cfe-b9b5-4690-9535-8c3c593c6550
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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abstract (76 Kb)
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summary (94 KB)
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| アイテムタイプ | 学位論文（博士論文） / Thesis or Dissertation(1) | |||||||
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| 公開日 | 2023-10-11 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Analysis of performance and reliability improvement in fully solution-processed oxide semiconductor for flexible device application | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | thin-film transistor | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | oxide semiconductors | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | solution-processed | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | flexible device applications | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | reliability improvement | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | plasma treatment | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ | doctoral thesis | |||||||
| その他のタイトル | ||||||||
| その他のタイトル | フレキシブルデバイス応用完全溶液プロセス酸化物半導体の性能および信頼性改善に関する解析 | |||||||
| その他のタイトル | ||||||||
| その他のタイトル | フレキシブル デバイス オウヨウ カンゼン ヨウエキ プロセス サンカブツ ハンドウタイ ノ セイノウ オヨビ シンライセイ カイゼン ニ カンスル カイセキ | |||||||
| 著者 |
Umu Hanifah
× Umu Hanifah
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| 書誌情報 |
発行日 2023-09-30 |
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| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | Nara institute of Science and Technology | |||||||
| 出版タイプ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 学位名 | ||||||||
| 学位名 | 博士（工学） | |||||||
| 学位授与機関名 | ||||||||
| 学位授与機関名 | 奈良先端科学技術大学院大学 | |||||||
| 学位授与年月日 | ||||||||
| 学位授与年月日 | 2023-09-30 | |||||||
| 学位授与番号 | ||||||||
| 学位授与番号 | 甲第2005号 | |||||||
| 電子化ID | ||||||||
| 値 | R018551 | |||||||
| 電子化ID | ||||||||
| 値 | R018566 | |||||||
